製品詳細
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記述: ICの電気通信は44PLCCをインターフェイスさせる
カテゴリー: |
統合回路 (IC) インターフェイス 通信 |
機能: |
拡張ビット誤り率テスター (EBERT) |
製品の状況: |
時代遅れ |
マウントタイプ: |
表面マウント |
パッケージ: |
テープ&ロール (TR) |
シリーズ: |
- |
供給者のデバイスパッケージ: |
44-PLCC （16.59x16.59） |
Mfr: |
アナログ・デバイスズ・インク/マキシム・インテグレート |
動作温度: |
-40°C ~ 85°C |
電流 - 供給: |
50mA |
電圧 - 供給: |
3V~3.6V |
パッケージ/ケース: |
44-LCC (J-リード) |
インターフェース: |
E1、J1、T1 |
回路数: |
1 |
基本製品番号: |
DS2174 |
カテゴリー: |
統合回路 (IC) インターフェイス 通信 |
機能: |
拡張ビット誤り率テスター (EBERT) |
製品の状況: |
時代遅れ |
マウントタイプ: |
表面マウント |
パッケージ: |
テープ&ロール (TR) |
シリーズ: |
- |
供給者のデバイスパッケージ: |
44-PLCC （16.59x16.59） |
Mfr: |
アナログ・デバイスズ・インク/マキシム・インテグレート |
動作温度: |
-40°C ~ 85°C |
電流 - 供給: |
50mA |
電圧 - 供給: |
3V~3.6V |
パッケージ/ケース: |
44-LCC (J-リード) |
インターフェース: |
E1、J1、T1 |
回路数: |
1 |
基本製品番号: |
DS2174 |
テレコムIC強化ビットエラーレートテスト (EBERT) 44-PLCC (16.59x16.59)
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